Демонстрация работы измерительной системы для тестирования полупроводниковых материалов и приборов
в Москве
Уважаемые коллеги!
Приглашаем Вас 20 июня 2019 года на серию демонстраций системы тестирования полупроводниковых приборов и материалов на базе параметрического анализатора Keithley 4200A-SCS и зондовой станции SemiProbe. Вы сможете не только ознакомиться с современными решениями для быстрого и эффективного измерения ВАХ, ВФХ и импульсных ВАХ, но и протестировать свои образцы.
Организаторы - компания Tektronix и ООО "Серния Инжиниринг"
Дата проведения - 20 июня 2019 года
Место проведения - Физический факультет МГУ, дворовый корпус, стр.1с2а
Время проведения -10.00 - 11.30 / 12.00 – 13.30 / 15.00 – 16.30
Регистрация: по e-mail nd@sernia.ru / конт.тел. +7 495 204 13 17
Все подробности смотрите на сайте компании ООО "Серния Инжиниринг" в разделе "Мероприятия".
комментарии (0)
Нет комметариев
Чтобы оставить комментарий к новости, необходимо авторизоваться на портале или зарегистрироваться.